inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試
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inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試

inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試
電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設備系統中擔負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責的芯片. 在電源的設計中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運轉, 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在芯片的設計之初就要考慮溫度問題.

電源管理芯片由于多是在狹小空間內工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環境中長時間工作, 電源芯片經常經歷快速升溫的情況, 甚至經歷在電壓不穩時快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時需要經過測試芯片在快速變溫過程中的穩定性, 這點十分重要. 上海伯東美國 inTEST  ThermoStream 高低溫沖擊測試機提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類電源管理芯片的高低溫沖擊測試.
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在電源管理芯片可靠性測試方面, 上海伯東美國 inTEST ThermoStream ATS 系列高低溫沖擊測試機 (熱流儀) 有著不同于傳統高低溫箱的獨特優勢: 變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫15°C, 實時監測待測元件真實溫度, 可隨時調整沖擊氣流溫度; 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件; 可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等工程機聯用.

inTEST 熱銷型號

ATS-545

ATS-710

ATS-535

溫度范圍 °C

-75 至 + 225

-75至+225

-60 至 +225

變溫速率

-55 至 +125°C 約 10 S
+125 至 -55°C 約 10 S

-55 至 +125°C 約 10 s
+125 至 -55°C 約 10 s

-40至+ 125°C < 12 s
+125至-40°C < 40 s

空壓機

額外另配

額外另配

內部集成空壓機

控制方式

旋鈕式

觸摸屏

旋鈕式

氣體流量 scfm

4 至 18

4 至 18

5

溫度顯示和分辨率

+/- 0.1°C

溫度精度

1.0°C(根據  NIST 標準校準時)


inTEST ATS-545 電源管理芯片高低溫沖擊測試: 上海伯東客戶某生產電源芯片企業, 下圖為實際的被測電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進行溫度測試. 要求測試溫度范圍﹣60℃~150℃, 進行12組不同形式的循環溫度設定.
inTEST ATS-545 電源管理芯片高低溫沖擊測試
inTEST ATS-710 電源管理芯片高低溫沖擊測試:上海伯東客戶某研發電源管理芯片公司, 芯片測試溫度范圍要求 -40 至 80度,在電測試時, 同時搭配測試儀, 設定不同的溫度數值, 檢查不同溫度下電源芯片各項功能是否正常. 通過使用該設備, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發過程中的潛在問題.
inTEST ATS-710 電源管理芯片高低溫沖擊測試
inTEST ATS-535 電源管理芯片高低溫沖擊測試: 上海伯東客戶南京某公司, 因場地受限, 無法使用空壓機, 最終選用 ATS-535 全球唯一內部集成空壓機的高低溫沖擊機進行測試.
inTEST ATS-535 電源管理芯片高低溫沖擊測試
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上海伯東: 葉小姐                                   臺灣伯東: 王小姐
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