inTEST 安全芯片高低溫沖擊測試
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inTEST 安全芯片高低溫沖擊測試

inTEST 安全芯片高低溫沖擊測試
上海伯東美國 inTEST 冷熱沖擊機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等測試機聯用, 進行安全芯片的高低溫沖擊測試. 實時監測安全芯片的真實溫度,可隨時調整沖擊氣流, 對測試機平臺 load board 上的安全芯片進行快速溫度循環沖擊, 傳統高低溫箱無法針對此類測試.

安全芯片多用于銀行卡, 門禁卡及物聯網中, 由于受到工作空間狹小, 芯片接觸面積小, 空氣流通環境差, 散熱的條件不好等影響,芯片表面可能會經歷快速升溫, 并且需要在高溫的環境中長時間工作; 同時實驗室也會搜集一些芯片的高低溫運行的數據做留存資料.所以測試安全芯片在快速變溫過程中的穩定性十分必要.

上海伯東安全芯片高低溫測試客戶案例:某半導體公司,安全芯片測試溫度要求 ﹣40℃~105℃, 選用 InTEST ATS-545 與泰瑞達測試機聯用, 對安全芯片進行快速冷熱沖擊, 設置 12組不同形式的循環溫度設定,快速得到完整精確的數據.

示意圖

inTEST 安全芯片高低溫沖擊測試

inTEST ThermoStream ATS-545 技術參數:

型號

溫度范圍 °C

* 變溫速率

輸出氣流量

溫度
精度

溫度顯示
分辨率

溫度
傳感器

ATS-545

-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷卻

-55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少

4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s

±1℃
通過美國NIST 校準

±0.1℃

T或K型
熱電偶


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